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納米壓痕儀（fischerscope, hm2000）用于分析樣品的楊氏模量、柔度等信息。 FISCHERSCOPE HM 2000是一款專業(yè)的納米壓痕測(cè)量?jī)x器，適用于通過納米壓痕法分析材料的機(jī)械與彈性特性。其非常堅(jiān)固且尺寸穩(wěn)定的構(gòu)造可減少震動(dòng)與溫度波動(dòng)的影響。穩(wěn)定的測(cè)量條件使其非常適用于要求嚴(yán)苛的研發(fā)與工業(yè)應(yīng)用中的測(cè)量任務(wù)。

FISCHERSCOPE XDLM231 X射線熒光測(cè)厚儀 。比較XUL和XUM儀器而言, XDL和XDLM系列儀器測(cè)星測(cè)星方向從.上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式機(jī),使用模塊化結(jié)構(gòu),也就是說它們可以配備簡(jiǎn)單支板，各種XY工作臺(tái)和Z軸以適應(yīng)不同的需求。

菲希爾膜厚測(cè)試儀DualScope FMP20 德國(guó)費(fèi)希爾膜厚儀是德國(guó)制造，中國(guó)市場(chǎng)上應(yīng)用較為廣泛的一個(gè)品牌，由于其精度高，質(zhì)量高，測(cè)量穩(wěn)定，廣泛應(yīng)用于計(jì)量院，實(shí)驗(yàn)室和汽車航天制造工業(yè)中

FISCHER探頭中國(guó)代理 德國(guó)Fischer高精度探頭進(jìn)口，任何一個(gè)電磁測(cè)量系統(tǒng)的核心都會(huì)是探頭，其信號(hào)質(zhì)量終決定了計(jì)量方案的整體測(cè)量質(zhì)量。進(jìn)過多年的研發(fā)和創(chuàng)新，F(xiàn)ISCHER現(xiàn)在擁有超過100種探頭，可以在各種測(cè)量任務(wù)中實(shí)現(xiàn)具有很高測(cè)量重復(fù)度和準(zhǔn)確性。

德國(guó)便攜式測(cè)鍍銀層測(cè)厚儀 電解測(cè)厚儀又叫做庫(kù)侖法測(cè)厚儀，應(yīng)用于電鍍層的測(cè)厚。電解測(cè)厚儀可以解決裝飾鉻層測(cè)厚、鎳層測(cè)厚、銅層測(cè)厚、鋅層測(cè)厚、錫層測(cè)厚、銀層測(cè)厚、金層測(cè)厚、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳等鍍層測(cè)厚問題。

DualScope MP0德國(guó)菲希爾袖珍膜厚儀 德國(guó)菲希爾手持式膜厚儀小巧、方便且穩(wěn)固 – MP0R 系列儀器能夠簡(jiǎn)便、快速且無(wú)損地測(cè)量涂層厚度。配有兩個(gè)顯示屏、一個(gè)特別堅(jiān)固的外殼和耐磨損的探頭，它們是 可以直接用于現(xiàn)場(chǎng)可靠測(cè)量的理想設(shè)備。MP0R型兩用涂層鍍層測(cè)厚儀雙面背光LCD顯示，大型顯示面板及機(jī)頂上顯示板