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德國Perthometer M2馬爾粗糙度儀華東代理

  • 更新時間:2019-12-18
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德國馬爾 MarSurf M 2便攜式粗糙度儀讓您得到Z到的測量功能和高效的測量靈活性.與Perthometer M1便攜式粗糙度儀對比,此設(shè)備不僅能滿足測量的需要和測量參數(shù)的存檔要求,還能使大多數(shù)的測量參數(shù)和特性曲線*根據(jù)DIN/ISO/JIS標(biāo)準(zhǔn)的要求哦進(jìn)行輪廓評定。

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品牌Mahr/德國馬爾產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域電子,交通,冶金,航天,汽車

德國Perthometer M2馬爾粗糙度儀華東代理

德國馬爾 MarSurf M 2便攜式粗糙度儀讓您得到zui到的測量功能和高效的測量靈活性.與Perthometer M1便攜式粗糙度儀對比,此設(shè)備不僅能滿足測量的需要和測量參數(shù)的存檔要求,還能使大多數(shù)的測量參數(shù)和特性曲線*根據(jù)DIN/ISO/JIS標(biāo)準(zhǔn)的要求哦進(jìn)行輪廓評定。

德國Perthometer M2馬爾粗糙度儀華東代理

德國Mahr馬爾Perthometer M2粗糙度測量儀特點(diǎn):
此儀器的操作是基于久經(jīng)驗(yàn)證的強(qiáng)大功能,使得儀器的設(shè)置如測量條件,系統(tǒng)語言和測量報告能方便的配置。MarSurf M2讓您得到到的測量功能和高效的測量靈活性。
與Perthometer M1對比,此設(shè)備不僅能滿足測量的需要和測量參數(shù)的存檔要求,還能使大多數(shù)的測量參數(shù)和特性曲線*根據(jù)DIN/ISO/JIS標(biāo)準(zhǔn)的要求哦進(jìn)行輪廓評定。
更多的,MarSurf M2 提供了內(nèi)置的存儲器,可用于存儲高達(dá)200組測量結(jié)果和實(shí)現(xiàn)公差監(jiān)測,垂直顯示比例的調(diào)整,用于計算粗糙度峰頂數(shù)使用的不對稱截止線設(shè)置。

 

德國Mahr馬爾 Perthometer M2便攜式粗糙度測量儀技術(shù)參數(shù):
測量范圍高達(dá)150μm
測量單位μm/μin 可選 
評定標(biāo)準(zhǔn): DIN/ISO/JIS 和CNOMO (Motif) 可選 
依照DINENISO4288/ASMEB461標(biāo)準(zhǔn)的測量長度選擇:1.75 mm;5.6 mm; 17.5 mm;依照ENISO12085標(biāo)準(zhǔn):1mm;2mm;4mm;8mm;12mm;16mm 
截止波長可從 1 至5自由選擇 
*依照標(biāo)準(zhǔn)的測量波長及測量長度自動選擇 
依照DINENISO11562標(biāo)準(zhǔn)的相位修正輪廓濾波器 
可選擇截止波長有0,25 mm/0,8 mm/2,5 mm (0,01 in/0,032 in/0,100 in) 
可選擇短截止波長 
依照DIN/ISO/SEP標(biāo)準(zhǔn)的評定參數(shù): Ra, Rz, Rmax, Rp, Rq, Rt, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Mr, Sm, RPc; 
依照J(rèn)IS標(biāo)準(zhǔn)的評定參數(shù): Ra, Rz, Ry, Sm, S, tp; Motif 標(biāo)準(zhǔn)的評定參數(shù): R, Rx, Ar, W, CR, CF, CL (3-區(qū)域測量) 
可顯示公差及輸出測量報告中 
顯示比例可自動或手動選擇 
可打印R-輪廓(ISO/JIS), P-輪廓(Motif), 材料率曲線, 等測量報告 
測量報告可輸出測量日期及時間 
內(nèi)置存儲卡可存儲200組測量數(shù)據(jù) 
動態(tài)傳感器校準(zhǔn) 
鎖定功能可避免儀器參數(shù)被意外修改并能設(shè)置任意密碼保護(hù)

 Perthometer M2便攜式粗糙度測量儀主要技術(shù)指標(biāo)
相對誤差: ≤±5%
測量原理:指針電感觸方式
測量范圍:100 um
測量速度:0.5 mm/s
輪廓分辨率:12 nm
濾波: 高斯(自動確定)  
取樣長度 : 0.25, 0.8, 2.5 mm
掃描長度按DIN/ISO: 1.75,  5.6, 17.5 mm
取樣長度數(shù)目: 1 到 5 , 可選擇
參數(shù): DIN/ISO : Ra, Rz, Rmax, Rq,Rp,Rt,R3z,Ry,Rk,Rvk,Rpk,Mr1,Rr2,Pc,Mk ,Sm,S,tp.
        : JIS : Ra, Rz

 

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